| 是否进口：否 | 产地：日本 | 加工定制：否 |
| 类型：辐射计 | 品牌：TOPCON拓普康 | 型号：SR-5100 |
| 测量范围：见参数 | 分辨率：见参数 | 取样率：见参数 |
| 精确度：见参数 | 解析度：见参数 | 电源：见参数 |
| 尺寸：见参数mm | 规格：见参数 |
2D分光辐射计SR-5100为具有点测定的分光辐射计同等性能，且可以面测量的2D分光辐射计。
2D分光辐射计SR-5100以非破坏?非接触的方式，测量光源的光谱特性，材料分光穿透率及物体的分光反射率特性，拥有高分辨率（500万像素）高量程（170亿cd/m2） 透过每1nm的分光特性测量，在客户产品质量维持上做出贡献。
在极速开发中的Micro/Mini LED显示屏及相关材料，物质质感，肌肤护理，纤维染织物，景观等广泛业种用途上使用。
特点
? 高分辨率500万像素(2448×2048)的高亮度量程的分光测量(170亿cd/m2)。
? 非破坏?非接触方式，高精度500万点，分光测量光源光谱特性及材料分光穿透率特性、物体分光反射率特性。
? 单点式分光辐射计同等性能的２维分光辐射计。
? 对可追溯性光源校正，达成高精度的亮度及色度精度***。
? 装载分光及XYZ测量模式，发挥各优点的高精度及高速的符合机型。
规格
| 测定模式 | 分光模式 |
|---|---|
| 光亮采集 | 500万画素 彩色CMOS图像传感器 |
| 对物镜 | 标准：f=32mm 标准＋广角辅助镜时：f=24mm (*1) 望远镜头：f=140mm 显微镜头 |
| 有功像素 | 2448×2048 |
| 测定范围 (*2) | 0.5 – 17,000,000,000 cd/m2 |
| 测定波长范围 | 380～780nm |
| 波长精度 (*4) | ±0.5nm *Hg 波宽线上、高精度模式时 |
| 光谱波宽 (*5) | 7nm (半波宽) |
| 波长分解能力 | 1nm |
| 直线性 | 亮度：±2%以内 (*3,*6) SR-5100HWS/SR-5000HM 色度：±0.0035以内(≦1cd/m2) (*3,*6) ±0.0025以内(1cd/m2＜) (*3,*6) ±0.005以内 (*6,*9) SR-5100HT 色度：±0.0035以内(≦1cd/m2) (*3,*6) ±0.0030以内(1cd/m2＜) (*3,*6) ±0.005以内 (*6,*9) |
| 面内MURA均匀性 (*10) | 亮度：±2%以内 色度：±0.003以内 |
| 重复精度 | SR-5100HWS/SR-5000HM 亮度：0.6%以内(≦1cd/m2) (*3,*6,*7) 0.5%以内(1cd/m2＜) (*3,*6,*7) 色度：0.003以内(≦1cd/m2) (*3,*6,*8) 0.002以内(1cd/m2＜) (*3,*6,*8) SR-5100HT 亮度：0.8%以内(≦1cd/m2) (*3,*6,*7) 0.5%以内(1cd/m2＜) (*3,*6,*7) 色度：0.004以内(≦1cd/m2) (*3,*6,*8) 0.003以内(1cd/m2＜) (*3,*6,*8) |
| 界面 | USB3.0 / 外部垂直同步信号输入 |
| 电源 | 专用 AC 电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz |
| 功率 | 约20W |
| 使用条件 | 0 – 35℃、80%R.H.以下(且无凝露) |
| 外形尺寸 (不包含凸起部份) | 标准：W162×H247×D372.5 mm 广角：W162×H247×D402.4 mm 显微：W162×H247×D330.5mm |
| 质量 | 标准：约6.3kg 广角：约8.2kg 显微：约5.8kg |
